超声波探头-双晶探头的组合性能侧试方法(TB/T 3078-2003 附录 B)
 
      TB/T 3078-2003 附录 B 探头的组合性能侧试方法。
 
B.1 超声波探头的组合灵敏度余量
 
       将探头置 于试块声程 T=40 mm 处的 Φ5 mm 平底孔位里,调节仪器增益旋钮,使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的50%,读出仪器衰减器读数S。
       衰减 器分贝总量减去 S 即为探头的组合灵敏度余量。
 
B.2 探头的焦距
 
B.2.1 将探头置于试块声程 T=40 mm 处的 Φ3 mm 横孔位置,调节仪器增益旋钮,使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的 80%,读出仪器衰减器读数S0
B.2.2 将探头移至试块声程 T=35 mm 处的 Φ3 mm 横孔位里,调节仪器增益旋钮,使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的80%,读出仪器衰减器读数S1
B.2.3 再将探头移至试块声程 T=45 mm 处的 Φ3 mm 横孔位置,调节仪器增益旋钮,使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的80%,读出仪器衰减器读数S2
B.2.4 分别求出 1=S0一S1 和 2 = So一S2 的值,1 与 2 应小于等于 3 dB。
 
B.3 探头的隔声信噪比
 
将探 头 里 于试块声程 T=40 mm 处的 Φ5 mm 平底孔位置,调节仪器增益旋钮,使其最高反射波为仪器面板垂直刻度满幅的 80%,再增益 20 dB。此时,探头离开试块表面,擦去探头表面的油层,读出此时的杂波高度。