相控阵探头多阵元工作示意图

 

       相控阵技术相比传统UT和X射线探伤方法具有许多优点。许多相互独立的阵元在一个相控阵探头中排列,并在不同的时间间隔激发,以在测试件中产生不同的声束覆盖。通过成像可以实现A,B,C扫描和扇形扫描(s-scan)。如果应用得当,利用相控阵探伤方法的可比传统UT和X射线探伤方法速度更快,同时收集更多的敏感数据和图像,更易于发现缺陷的位置,性质,和大小(包括长度和缺陷高度)。

 

相控阵技术:


      相控阵技术是通过特定聚焦法则控制多个阵元,使声场在测试件中实现期望的超声覆盖。相控阵检测可以通过定义聚焦法则,产生均匀波阵面、波束聚焦以及一次利用许多不同的超声角度的能力,使用户能够同时进行多种类型的检查。任何用于缺陷检测和尺寸测量的常规UT技术都可以使用相控阵。

 

相控阵探头优势:


      相控阵探头多阵元组合在检测复杂几何形状和其他常规超声和X射线方法无法检测的结构中非常有用。检测和测量精度大大提高,能够在特定测试件的特定位置实现多种聚焦。可以只用一个相控阵探头同时进行多次检测。相控阵检测包括但不限于:管道和压力容器焊缝检测,涡轮盘叶片根部检测,凸面和环连接法兰的检测等。相控阵检测技术也可应用于自动化或半自动化系统,可用于长期监测项目的快速检查时间和可重复性。

 

 

超声波探头