相控阵探头检测复合材料


       使用相控阵探头与传统超声探头相比,相控阵由于具有聚焦和图像显示的特点,对结构型缺陷检测的可靠性更高。特别是在复合材料检测。

 

      传统的单晶片超声波探头检测只需要一个压电换能器(发射和接收分开的一对晶片的双晶探头与之相同)。单晶片超声波(非相控阵)探头,技术上称为单通道,其声束发射为固定方向。为了使声场覆盖整个材料,常规单晶片超声波探头一般必须物理地转动或移动以检测到对应需检测的区域。相比之下,相控阵探头的光束可以通过电子方式移动,不移动探头,声场就可以覆盖更大的区域。相控阵探头的声束是可控的,因为相控阵探头由多个小的元件组成,每个小的元件可以在计算机计算的定时单独发射。通过相控阵仪器对每个阵元进行不同的发射定时控制,也称为聚焦法则。通过聚焦法则的控制,声场覆盖的区域能实现各种特定的聚焦方式,检测灵敏度也得到提升。

 

      相控阵探头检测复合材料时,信号幅度或深度数据都可以收集,相控阵探头同时利用编码器收集和存储探头位置,通过软件实现C扫描成像显示。

 

 

       相控阵探头检测复合材料