斜探头校准和DAC曲线制作

 

斜探头校准

 

       校准内容:探头前沿、探头零点和探头角度。
       器材准备:超声波探伤仪,斜探头,探头连接线,CSK-ⅠA 试块。
       操作步骤:① 粗调仪器:开启新通道,检测范围调整为 120 mm,声速为 3230 mm/s。
                      ② 探头前沿:使斜探头对准 100 mm 圆弧找到最高波,记录探头前端到试块边沿的距离并算出探头前沿。
                      ③ 探头零点:保持探头位置不动,调整探头零点数值使声程等于 100 mm。
                      ④ 探头角度:找到 CSK-ⅠA 试块上深度 15 mm 位置 Φ1.5 横通孔的最高波,调节“角度”值,当深度数值 Da=15 mm 时,此时的角度值即为探头的实际角度值。


斜探头DAC曲线制作

 

       制作步骤:由浅到深找到3个不同深度横通孔的最高波,记录并补偿完成DAC曲线制作。
       操作步骤:① 找到离表面最近的横通孔最高波,调整波高幅度至屏幕 80% 的高度,闸门框住后记录。
                      ② 找到第二深位置的横通孔最高波,闸门框住后记录。
                      ③ 找到第三深位置的横通孔最高波,闸门框住后记录。
                      ④ 进行表面补偿,根据标准要求设置评定线、定量线和判废线。

 

 

       斜探头