双晶直探头盲区小的原因和使用容易忽视的问题
 
       双晶直探头又称双晶片纵波直探头、纵波分割式探头、TR探头,国外一般以TR+角度标注,我国一般以FG+焦距区分。
 
双晶直探头近表面盲区小
        双晶直探头一个探头中有两个晶片,他们分别用作发射和接收超声波。因始脉冲不能进入探伤仪的接收放大线路中,克服了“阻塞”现象,使盲区减小,为检测近表面缺陷创造了有利条件;两晶片之间有隔声层,使界面波强度大为减弱。
 
双晶直探头的特点
       它具有灵敏度高、杂波少、盲区小、近场区长度小等单晶探头无法比拟的优点,广泛用于板材、复合材料等薄工件和铸件、锻件近表面的检测。
 
双晶直探头焦距的选择
       从双晶直探头灵敏度曲线上看,整个检测范围内探头灵敏度曲线基本对称;探头的焦距以等于板材厚度的一半为最佳,保证板材中心又较高的检测灵敏度,远检测面和近检测面有基本相同的检测灵敏度。
 
使用双晶直探头要注意的问题
       使用双晶探头确定缺陷的边界或指示长度时,探头的移动方向必须与探头的声束分割面垂直,否则测定的缺陷长度包含了探头的声束有效宽度。缺陷边界的测定要注意有效波束宽度问题,避免方法不当,人为地将小缺陷测定成了大缺陷,造成不必要的损失。
 
 
       双晶直探头