超声波探头-纵波直探头


       纵波直探头也称平探头,可发射及接受纵波。纵波直探头主要由压电晶片、阻尼块(吸收块)、外壳、电器接插件及保护膜组成。适用于检测晶片正下方与声束方向垂直的缺陷,检测深度较大,适用范围较广,检测灵敏度高。主要探测缺陷:探测与探测面平行的缺陷,如板材、锻件探伤等。

 

       探头保护膜是保护压电晶片不致磨损。分为硬、软保护膜两类。硬保护膜用于表面光洁度较高的工件。软保护膜的常用透明塑料薄膜(厚约0.3毫米),用于表面光洁度较低的工件探伤。当保护膜的厚度为 λ2/4 的奇数倍,且保护膜的声阻抗 Z2 为晶片声阻抗 Z1 和工件声阻抗 Z3 的几何平均值时,超声波全透射。

 

 

       直探头

                          硬膜直探头

 

              软膜直探头

 

                             软膜直探头