超声波探头-双晶探头

 

       双晶探头,又称组合探头,两块压电晶片装在一个探头架内,一个晶片发射,另一个接收。双探头发射及接收纵波,晶片下的延迟块使声波延迟一段时间后射入工件,这样可探测近表面的缺陷并可提高分辨力。两块晶片有一倾角(一般约3°~18°),两晶片声场重合部分(阴影部分),是探伤灵敏度较高的部位。

 

      双晶探头的双晶片声场重叠区灵敏度最高,一般用于定向定位检测,检测深度较小,检测灵敏度较高。常用的双晶探头有纵波双晶直探头、横波双晶斜探头和纵波双晶斜探头三种。纵波双晶直探头检测晶片正下方与声束方向垂直的缺陷;横波双晶斜探头用于检测探头下方不同角度方向的缺陷,适用于母材厚度较小及薄壁管焊缝;纵波双晶斜探头主要用于检测奥氏体不锈钢焊缝。

 

 

            双晶片探头